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Zeta100電位納米粒度分子量分析儀制備樣品的兩個難點

更新時間:2022-03-30點擊次數(shù):1540
  Zeta100電位納米粒度分子量分析儀實質(zhì)上是利用運算放大器進過運算,使參比電極與研究電極之間的電位差,嚴格的等于輸入的指令信號電壓Vi。用運算放大器構成的恒電位儀,在電解池、電流取樣電阻以及指令信號的連接方式上有很大靈活性。可以根據(jù)電化學測試的要求選擇或設計各種類型的恒電位儀電路。
 
  在腐蝕實驗中,工作電極就是腐蝕金屬樣品。一般來講,工作電極并非被研究金屬材料的全部結構,而只需使用一小片,這一點與腐蝕掛片法類似。工作電極可以是裸金屬或者帶涂層或鍍膜的金屬。
 
  在Zeta100電位納米粒度分子量分析儀測試過程中所需的小光強為20kcps。因此低濃度取決于相對折光指數(shù)差(粒子和溶劑間的折光指數(shù)差值)和粒子尺寸。粒子的尺寸越大所產(chǎn)生的散射光越強,所需的濃度也就越低。對于折光指數(shù)差較大的樣品,譬如TiO2粒子的水性懸浮液,TiO2的折光指數(shù)為2.5,與水的折光指數(shù)差較大,有較強的散射能力。
 
  因此對于300nm的TiO2粒子,小濃度可以為10-6w/v%。對于折光指數(shù)差很小的樣品,比如蛋白質(zhì)溶液,低濃度會高很多。通常低濃度需要在0.1-1w/v%之間才能有足夠的散射光強進行Zeta電位測量。終,對于特定樣品進行一個成功的Zeta電位測量的低濃度,應該由試驗實際測量得到。
 
  zeta電位儀樣品制備有兩個難點:
 
  1、保證檢測體系和實際體系的一致性,包括:pH、系統(tǒng)的總離子濃度、存在的任何表面活性劑或聚合物的濃度;
 
  2、合適的濃度。

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